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簡要描述:光的偏振調制及偏振態的檢測在近代光學精密測量和光通信中有著舉足輕重的作用。在實際應用中,通過對光學相位延遲的系統的研究,可以測量任意光學相位延遲量。本實驗內容涉及光的偏振理論、偏振調制與檢測、精確測量相位延遲等多方面理論與應用知識。本套實驗裝置既適合光電、光信息、光學工程、光電檢測等專業本科或研究生教學,也可適用在科研部門或作其他拓展使用。
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